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Memory Tester MT6121 (Wafer Tester 공정용)
300mm Wafer Line의 다품종 Memory Device에 대응하고 Cost Performance를 향상시키기 위해 개발된 차세대 평가 ·분석·양산용
Memory Tester System입니다. 이 제품의 특징으로는 첫째로, High Cost Performance와 다품종
생산에 대응한다는 점입니다. Memory Device를 최대 512개/Test Head가 동시 측정 가능하며 각 Head가
독립되어 Test Start가 가능하기 때문에 생산성이 큰 폭으로 향상됩니다. Test Head가 각각 제품을 Test 할
수 있기 때문에 다품종 생산에 적합합니다. 둘재로 모든 Memory Device의 Wafer Test 공정에 대응한다는
점입니다. DRAM, SRAM, PSRAM, FLASH와 Memory 혼재 ASIC에 대응하며, Wafer Test,
KGD(Known Good Die)에 대응합니다. 셋째로는 많은 기능을 Tester Head에 집약하는 것으로 기존 당사
제품 대비 60% Floor Space를 실현하였습니다. 마지막으로는 GUI 대응 User의 Interface AViPSⓡ에
의해 개발·분석시간을 단축시켰습니다. |
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